由于
高精度電子天平的相對(duì)精度很高，均在百萬(wàn)分之一以上，當(dāng)受到環(huán)境溫度變化，天平自身通電后發(fā)熱的溫度變化，元器件的老化，空氣壓力的變化，水平位置的變化等多種因素的影響，都會(huì)使稱重結(jié)果不正確，因此，在很多高精度電子天平中都裝有內(nèi)部校正砝碼，當(dāng)當(dāng)受到溫度等外部環(huán)境影響時(shí)。即時(shí)用內(nèi)部校正砝碼對(duì)天平進(jìn)行重新校正，修改校正系數(shù)，使天平恢復(fù)正確的稱重結(jié)果，這對(duì)高精度電子天平的稱重是非常必要的。而高精度電子天平的內(nèi)校砝碼的生產(chǎn)有較高的要求，它對(duì)砝碼材料密度、磁化率、砝碼表面光潔度均有很高的要求外，對(duì)砝碼實(shí)際質(zhì)量的準(zhǔn)確性有較高的要求，如天平的實(shí)際分度值為0.1mg，則內(nèi)部校正砝碼的實(shí)際質(zhì)量誤差就應(yīng)小于0.05mg，這樣的要求給砝碼生產(chǎn)過(guò)程中的調(diào)整帶來(lái)困難，同時(shí)由于經(jīng)常使用帶來(lái)的磨損及氧化等造成砝碼質(zhì)量變化，產(chǎn)生校正偏差，這對(duì)內(nèi)部校正砝碼進(jìn)行修正相當(dāng)困難，目前尚沒有行之有效的內(nèi)部校正砝碼的校正方法。
提供一種可降低內(nèi)內(nèi)校砝碼質(zhì)量準(zhǔn)確性要求，并能對(duì)已磨損、氧化造成琺碼質(zhì)量變化的內(nèi)校砝碼可方便地修正的高精度電子天平的內(nèi)校砝碼校正的方法。
技術(shù)方案是用一個(gè)檢測(cè)程序和改變通常求校正系數(shù)的算法來(lái)實(shí)現(xiàn)的，其方法步驟如下：
1、通過(guò)本天平的稱重系統(tǒng)稱出內(nèi)校砝碼的重量值P1，并存入微機(jī)；
2、在上述同一天平上稱出一只名義值和上述內(nèi)校砝碼相同的標(biāo)準(zhǔn)砝碼的重量P2，并存入微機(jī)；
3、在微機(jī)內(nèi)算出差值D，D＝P2-P1作為內(nèi)校砝碼的修正量；
4、根據(jù)公式求得校正系數(shù)K，存入微機(jī)。
本方法簡(jiǎn)單方便，可使生產(chǎn)內(nèi)校碼過(guò)程中對(duì)內(nèi)校碼質(zhì)量的準(zhǔn)確性要求降低，降低生產(chǎn)成本，并能對(duì)已磨損、氧化造成琺碼質(zhì)量變化的內(nèi)校砝碼可方便地修正。
